首先,了解下用表面鍍層測厚儀測量準(zhǔn)確需要什么條件,具體為以下幾點(diǎn):
1.基體金屬特性。對于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
2.基體金屬厚度。檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,無損檢測資源網(wǎng) 如果沒有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
3.讀數(shù)次數(shù)。通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
4.邊緣效應(yīng)。不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
5.曲率。不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
6.表面清潔度。測量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
了解了表面鍍層測厚儀的測量準(zhǔn)確條件,再來看看哪些因素會(huì)影響表面鍍層測厚儀的測量。
使用磁性原理和渦流原理的表面鍍層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的,所以,被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性,下面就這方面的問題作一下介紹。
1、邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差。如必須測量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測量。
2、基體表面曲率在一個(gè)平直的對比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?;騾⒄障聴l。
3、基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的zui小厚度,使探頭的電磁場能*包容在基體金屬中,zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的表面鍍層測厚儀,如前所述。
4、表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。
5、探頭測量板的作用力探頭測量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測量值下降?;町a(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?/p>
6、覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對測量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對用作校準(zhǔn)的對比試樣覆層應(yīng)具有與被測物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測試后獲得對比標(biāo)準(zhǔn)試樣。
7、外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
以上介紹了如何使用表面鍍層測厚儀測量更準(zhǔn)確,更多關(guān)于表面鍍層測厚儀的信息,咨詢!
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